cp演算法

A. 過程能力指數的演算法

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
1、雙側規格

雙側規格情形的過程能力指數，這時，過程能力指數CP的計算公式如下：式中，T為過程統計量的技術規格的公差幅度；TU、TL分別為上、下公差界限；σ為過程統計量的總體標准差，可以在過程處於穩態時得到。
2、有偏移情形
有偏移情形的過程能力指數：當過程統計量的分布均值μ與公差中心M不重合（即有偏移）時，如圖1所示，顯然不合格率（如圖上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所計算的過程能力指數不能反映有偏移的實際情形，需要加以修正。定義分布的總體均值μ與公差中心M的偏移為ε=|M-μ|，μ與M的偏移度K為：
這樣，當μ=M（即分布中心與公差中心重合，無偏移）時，K=0，則CPK=CP；而當μ=TU或μ=TL時，K=1，CPK=0，表示過程能力由於偏移而嚴重不足，需要採取措施加以糾正。顯然，具有： CPK≤CP
3、單側規格
單側規格情形的過程能力指數：若只有規格上限的要求，而對規格下限無要求，則過程能力指數計算如下：
式中，CPU為上單側過程能力指數。若μ≥TU，令CPU=0，表示過程能力嚴重不足，過程的不合格品率高達50%以上。若只有規格下限的要求。 過程能力指數運算有5種計算方法：
直方圖（兩種繪圖方法）；
散布圖（直線回歸和曲線回歸）（5種）；
計算剩餘標准差；排列圖（自動檢索和排序）；
波動圖（單邊控制規范，也可以是雙邊控制規范）。