dwpi資料庫

Ⅰ 簡述DII專利資料庫。

德溫特專利情報資料庫Derwent Innovations
Index（簡稱：DII）由DWPI和Patents Citation Index（專利引文索引, PCI）兩個部分組成。

專利全文！從DII可以直接獲取專利全文電子版。點擊記錄中專利號旁的「原文」按鈕，即可得到專利全文的PDF版。Thomson
Patents Store提供了全球90%以上的專利全文，輔之以DII專利家族的標引，基本上解決了專利全文的獲取問題。
專利家族！德溫特將在不同國家申請的同一發明專利合並成一條記錄，避免研究人員檢索專利後重復閱讀同一技術發明，節省研發人員寶貴時間。
收錄范圍！DII
收錄來自全球41個專利機構（涵蓋100多個國家，包括中國的實用新型專利信息）的超過1,800萬條基本發明專利，3,890多萬條專利情報；數據回溯到1963年。
引文信息！提供全球收錄最全面的專利引文信息，除US之外，PCI還 包括WO, EP, JP, DE,
GB的專利引文數據。
精確檢索！專利信息利用最大的難點在於檢索，德溫特各領域技術專家根據專利全文內容，特別是權利要求項，用普通技術詞彙重新改寫的標題和文摘詳細反映了專利的內容、應用、新穎性等信息，幫助研究人員快速、准確和有效的查全、查准專利技術。
閱讀方便！通過德溫特重新改寫的標題和文摘，研究人員能夠在較短時間內了解專利技術細節，避免耗費大量時間用於閱讀和篩選晦澀難讀的專利全文。
檢索靈活！德溫特獨有的數據深加工標引欄位，為研究人員提供了准確迅速的檢索途徑，比如專利權人代碼、德溫特分類、德溫特手工代碼、化合物名稱、被引專利檢索等。
分析功能！DII強大的分析功能允許您按照多種途徑對多達100,000條記錄進行分析，從不同角度分析技術發展的趨勢、專利的分布、專利技術細節的分布等。
語種優勢：專利文獻以幾十種不同語種公開，造成以單一語種檢索時的大量漏檢，以及後續閱讀困難；德溫特通過高附加值的標引，統一將幾十種不同語種轉變為易讀統一的英語，避免漏檢與閱讀困難。
與SCIE連接！DII與Web of
Science（SCIE）雙向連接，這樣就將基礎研究或應用基礎研究的成果與技術應用的成果有機地聯系在一起，從而能夠了解基礎研究成果與市場應用前景之間的關系，分析全球知識產權領域的競爭態勢，加速知識創新與技術創新的互相推動與轉化。

Ⅱ 為什麼說德溫特專利能夠克服以往專利檢索中遇到的困難

個人認為最突出的是，德溫特專利資料庫包括由各個行業的技術專家進行重新編寫的專利信息，如描述性的標題和摘要、新穎性、技術關鍵、優點；避免了專利本身原有的專利摘要概括不當、拼寫錯誤等所造成的漏檢。此外，還有及時提供最新的小語種（德、日、法、西、阿等）專利的英文摘要。說多了象給它們免費做廣告的……

DWPI的深加工數據具有很多重要特點，是現今業界最受信賴的專利研究信息來源。專利記錄包含描述性的標題、用行業術語對發明的新穎性所做的概括性摘要、以及對重要著錄項目信息的校正，其中包括校正專利權人、發明人姓名的拼寫錯誤、優先權錯誤、分類代碼缺失等。數百位經過專業培訓的各領域專家根據五千多條規則，每周對6000條數據進行深加工，包括對數據進行規范化、標准化和校正。

DWPI還採用獨特的分類代碼和索引系統，技術專家採用該方法對全球各大專利授權機構和所有技術領域的專利進行人工的分類標引，遵循一致的分類原則，以實現准確、具有相關性的信息檢索。深入縝密的編輯流程和質量控制保證了專利數據的權威性和准確性，如果不使用DWPI可能會錯失某些洞識。

Ⅲ 簡述DII專利資料庫

德溫特專利情報資料庫DerwentInnovations

Index（簡稱：DII）由DWPI和PatentsCitationIndex（專利引文索引,PCI）兩個部分組成。

專利全文！從DII可以直接獲取專利全文電子版。點擊記錄中專利號旁的「原文」按鈕，即可得到專利全文的PDF版。Thomson

PatentsStore提供了全球90%以上的專利全文，輔之以DII專利家族的標引，基本上解決了專利全文的獲取問題。

專利家族！德溫特將在不同國家申請的同一發明專利合並成一條記錄，避免研究人員檢索專利後重復閱讀同一技術發明，節省研發人員寶貴時間。

收錄范圍！DII

收錄來自全球41個專利機構（涵蓋100多個國家，包括中國的實用新型專利信禪橘息）的超過1,800萬條基本發明專利，3,890多萬條專利情報；數據回溯到1963年。

引文信息！提供全球收錄最全面的專利引文信息，除US之外，PCI還包括WO,EP,JP,DE,

GB的專利引文數據。

精確檢索！專利信息利用最大的難點在於賀態團檢索，德溫特各領域技術專家根據專利全文內容，特別是權利要求項，用普通技術詞彙重新改寫的標題和文摘詳細反映了專利的內容、應用、新穎性等信息，幫助研究人員快速、准確和有效的查全、查准專利技術。

閱讀方便！通過德溫特重新改寫的標題和文摘，研究人員能夠在較短時間內了解專利技術細節，避免耗費大量時間用於閱讀和篩選晦澀難讀的專利全文。

檢索靈活！德溫特獨有的數據深加工標引欄位，為研究人員提供了准確迅速的檢索途徑，比如專利權人代碼、德溫特分類、德溫特手工代碼、化合物名稱、被引專利檢索等。

分析功能！DII強大的分析功能允許您按照多種途徑對多達100,000條記錄進行分析，從不同角度分析技術發展的趨勢、專利的分布、專利技術細節的分布等。

語種優勢：專利文獻以幾十種不同語種公開，造成以單一語種檢索時的大量漏檢，以及後續閱讀困難；德溫特通過高附加值的標引，統一將幾十種不同語種轉變為易讀統一的英語，避免漏檢與閱讀困難。

與SCIE連接！DII與Webof

Science（SCIE）雙向連接，這樣就將閉租基礎研究或應用基礎研究的成果與技術應用的成果有機地聯系在一起，從而能夠了解基礎研究成果與市場應用前景之間的關系，分析全球知識產權領域的競爭態勢，加速知識創新與技術創新的互相推動與轉化。